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產品詳情
  • 產品名稱:高低溫沖擊快速溫變試驗箱

  • 產品型號:SER
  • 產品廠商:賽思
  • 產品文檔:
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簡單介紹:
高低溫沖擊快速溫變試驗箱對不同電子構件,在實際使用環境中遭遇的溫度條件,改變環境溫差范圍及急促升降溫度改變,可以提供更為嚴格測試環境,縮短測試時間,降低測試費用,但是必須要注意可能對材料測試造成額外的影響,產生非使用狀態的破壞試驗。(需把握在失敗機制依然未受影響的條件下)RAMP試驗條件標示為:Temperature Cycling 或Temperature Cycling Test也就是溫度循環(可控制斜率的溫度沖擊)。
詳情介紹:

高低溫沖擊快速溫變試驗箱 特 點:

1、可執行AMP(等均溫變)、三箱沖擊(TC)、兩箱沖擊(TS)、高溫儲存、低溫儲存功能;

2、等均溫速率賽思可設定范圍5℃~30/min(40/min);

3、滿足無鉛制程、無鉛焊錫、錫須(晶須)、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等試驗要求;

4、賽思采用美國Sporlan公司新型PWM冷控制技術實現低溫節能運行;

5、除霜周期三天除霜一次,每次只需1小時完成;

6、通信配置RS232接口和USB儲存曲線下載功能;

7、感測器放置測試區出(回)風口賽思設計符合實驗有效性;

8、機臺多處報警監測,配置無線遠程報警功能;

高低溫沖擊快速溫變試驗箱 節能控制方式:

制冷壓縮機啟??刂茰囟龋囟炔▌哟?、嚴重影響壓縮機壽命,已淘汰的技術)制冷壓縮機恒定運行+加熱PID控制(導致制冷量與加熱相抵消實現溫度動態平衡,浪費了大量的電能)新型PWM冷控制技術賽思實現低溫節能運行:低溫工作狀態,加熱器不參與工作,通過PWM技術控制調節制冷機組制冷劑流量和流向,對制冷管道、冷旁通管道、熱旁通管道三向流量調節,實現對工作室溫度的自動恒定。此方式在低溫工況下,可實現降低40%的能耗。 

高低溫沖擊快速溫變試驗箱 標準: 

無鉛制程、無鉛焊錫、錫須(晶須)、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等試驗要求。

產品&規范

廠商名稱

高溫

低溫

溫變率

循環數

循環時間

備注

MIL-STD-2164、GJB-1032-90
電子產品應力篩選

——

工作極限溫度

工作極限溫度

5/min

1012

3h20min

——

MIL-344A-4-16
電子設備環境應力篩選

設備或系統

71

-54

5/min

10

——

——

MIL-2164A-19
電子設備環境應力篩選方法

——

工作極限溫度

工作極限溫度

10/min

10

——

駐留時間為內部達到指定溫度10℃時

NABMAT-9492
美軍海軍制造篩選

設備或系統

55

-53

15/min

10

——

駐留時間為內部達到指定溫度5℃時

GJB/Z34-5.1.6
電子產品定量環境應力篩選指南

組件

85

-55

15/min

25

——

達到溫度穩定的時間

GJB/Z34-5.1.6
電子產品定量環境應力篩選指南

設備或系統

70

-55

5/min

10

——

達到溫度穩定的時間

筆記本電腦

主板廠商

85

-40

15/min

——

——

——


TSR(斜率可控制)[5℃~30 /min]

30/min

電子原件焊錫可靠度、PWB的嵌入電阻&電容溫度循環 MOTOROLA壓力傳感器溫度循環試驗

28/min

LED汽車照明燈

25/min

PCB的產品合格試驗、測試Sn-Ag焊劑在PCB疲勞效應

24/min

光纖連接頭

20/min

IPC9701 、覆晶技術的極端溫度測試、GS-12-120、飛彈電路板溫度循環試驗 PCB暴露在外界影響的ESS 測試方法、DELL計算機系統&端子、改進導通孔系統信號 比較IC包裝的熱量循環和SnPb焊接、溫度循環斜率對焊錫的疲勞壽命

 

17/min

MOTO

15/min

IEC 6074925、JEDEC JESD22-A104B、MIL 、DELL液晶顯示器 電子組件溫度循環測試(家電、計算機、通訊、民用航空器、工業及交通工具、 汽車引擎蓋下環境)

11/min

無鉛CSP產品溫度循環測試、芯片級封裝可靠度試驗(WLCSP) 、IC包裝和SnPb焊接、 JEDEC JESD22-A104-A

10/min

通用汽車、 JEDEC JESD22-A104B-J、GR-1221-CORE 、 CR200315 、MIL JEDEC JESD22-A104-A-條件1 、溫度循環斜率對焊錫的疲勞壽命、 IBM-FR4板溫度循環測試

5/min

 

錫須溫度循環試驗

高低溫沖擊快速溫變試驗箱 技術規格:

型號

SER-A

SER-B

SER-C

SER-D

內箱尺寸
W x D x H cm

40×35×35

50×50×40

60×50×50

70×60×60

外箱尺寸
W x D x H cm

140×165×165

150×200×175

160×225×185

170×260×193

溫度范圍

-80.00℃~+200.00

低溫沖擊范圍

-10.00℃~-40//-55//-65.00

高溫沖擊范圍

+60.00℃~+150.00

時間設定范圍

0 hour 1 min 9999 hour 59 min/segment

溫度波動度

1℃(≤±0.5℃,按GB/T5170-1996表示)

溫度偏差

≤±2℃(-65℃~+150℃)

溫度均勻度

2.00℃以內

溫變速率(斜率)

+5℃~+30/min(+40)

溫變范圍

-55℃~+85//+125

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